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功率循環(huán)

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設備:MicReD? Industrial Power Tester 1500A

廠商:Mentor Graphics

用途:結合功率循環(huán)測試功能和瞬態(tài)熱測試功能的熱測試產品,通過結構函數(shù)提供實時故
障原因診斷的數(shù)據(jù)

檢測范圍:IGBT模組

測試標準:JEDEC MIL-STD-750E、 GJB128A AEC-Q101 IEC60747-2/6 ch. IV IEC60747-9、 JESD51-14

技術指標:

l  每通道最大加熱電流500A

l  瞬態(tài)捕獲輸入通道及最多可同時測試器件數(shù)量:3

l  時間分辨率:1s

l  每通道的最小測試電流Is輸出:5mA

l  每通道的最大測試電流Is輸出:1A

l  最小脈沖持續(xù)時間:0.5s

l  最大脈沖持續(xù)時間:3200h

l  柵極電流IG測試:250pA~100A

l  實時分析常見的由于熱量引起的機械性失效包括:芯片焊接層、焊線的分離、芯片及封裝內部材料的分層與破裂、及焊接層的老化。

l  提供“實時”結構函數(shù)診斷功能,以顯示失效發(fā)展過程、循環(huán)次數(shù)以及失效原因。


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