設(shè)備:AFM粗糙度測(cè)試儀Dimension ICON
廠商:德國(guó) Bruker
用途:通過(guò)探測(cè)微細(xì)針尖和樣品原子團(tuán)之間相互作用力的變化來(lái)檢測(cè)樣品表面的高低起伏,具有原子級(jí)分辨率的表面形貌和表面特性分析。檢測(cè)固體材料粗糙度和局部形貌
技術(shù)指標(biāo):
l 最大掃描范圍:10umX10um,最小值:10nmX10nm
l 樣品臺(tái)尺寸:φ35mm
l 表面粗糙度:最大值為1μm
l 測(cè)試模塊:形貌測(cè)試、導(dǎo)電性能測(cè)試、靜電力測(cè)試、表面電勢(shì)測(cè)試、磁學(xué)測(cè)試、納米力學(xué)測(cè)試
地址:廣東省東莞市松山湖國(guó)家高新區(qū)總部一號(hào)12棟5樓
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